以電荷耦合器件(CCD)為天體測量儀器終端設備進行天體測量的學科。從有上百年歷史的照相天體測量演變而來，CCD技術相對照相技術的主要優點是：光譜響應範圍寬，紅敏性好；量子效率高，可達30%～90%；線性回應度高，覆蓋星等範圍達7等以上；可即時歸算處理。由於這些突出的優點，CCD技術已取代瞭照相技術，而照相天體測量學則發展成為CCD天體測量學。其主要任務是測量、研究天體在天球上的位置和運動。具體內容包括：①天體（包括人造天體）球面座標的測定。②恒星自行，包括括雙星、聚星系統運動的測定。③恒星視差的測定。④光學參考架向暗星擴充等。CCD技術使天體測量工作在觀測精度、星等和效率方面得到瞭較大的飛躍。CCD測定的視差的精度達到瞭±1 毫角秒，比照相方法提高瞭4倍。又如美國海軍天文臺的CCD天體照相儀星表（簡稱UCAC）是1998年開始觀測的，2004年5月就發表瞭UCAC2星表覆蓋86％的天區，該星表包括瞭約4 800萬顆暗至16等源的位置和自行（見天體測量星表）。CCD觀測技術還可用於天體的位置和光度的同時測定。